英睿達和三星部分加密固態(tài)硬盤(pán)存在關(guān)鍵安全漏洞

【環(huán)球網(wǎng)科技綜合報道】來(lái)自荷蘭奈梅亨大學(xué)的研究者發(fā)現，英睿達和三星的部分固態(tài)硬盤(pán)產(chǎn)品，即便使用了硬件加密，也可以通過(guò)逆向編譯固件騙得JTAG調試接口的信任，從而輕松繞過(guò)，導致用戶(hù)數據資料泄露。

“我們發(fā)現研究中的固態(tài)硬盤(pán)存在關(guān)鍵的安全漏洞。”研究人員說(shuō)。

據了解，受到影響的固態(tài)硬盤(pán)包括英睿達的MX 100、MX 200、MX 300，三星的T3、T5、840 EVO、850 EVO等等，與此同時(shí)，其他型號或者品牌的固態(tài)硬盤(pán)也有可能受到影響。研究者還表示，部分超級管理員密碼為空或者驗證機制存在問(wèn)題，無(wú)論使用哪種字段都能夠輕松進(jìn)入目錄讀取硬盤(pán)的信息。

對此，研究人員的建議是使用開(kāi)源的VeraCrypt加密，而不是個(gè)性化的專(zhuān)有加密，包括微軟的BitLocker。

目前，英睿達和三星部分固態(tài)硬盤(pán)已經(jīng)通過(guò)固件更新填補漏洞，而三星840 EVO和850 EVO則是選擇臨時(shí)有線(xiàn)選擇軟件加密。